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10米法暗室与3米法暗室介绍

2024-10-12
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·10米法半电波暗室·
  

10米法暗室与3米法暗室介绍插图

  10m法半电波暗室是按照10m测试距离设计的半电波暗室,主要由主暗室、控制室和功放室组成(可选择传导测试室),用于10m或者3m距离的辐射抗扰度测试和辐射发射的符合性测试。10米法电波暗室是最具普及性的标准测试环境,主要是为了满足大尺寸电子系统的测试需求以及一些电子产品的行业测试标准之要求,同时也可以进行3m法的测试,静区可扩大至5米甚至8米直径或者更大,广泛应用于IT产品,家用电器,医疗器械,汽车整车和零部件,大型军工电子系统,工业电子系统,通信领域等电磁兼容测试。典型屏蔽内尺寸:21m(长)×12m(宽)×9m(高)。
  
  主要性能
  
  •  辐射抗扰度测试:符合IEC/EN 61000-4-3等标准的要求。
  
  •  辐射发射测试:符合EN 50032、EN 50147-2、GJB 151A和GJB 152A等标准要求。
  
  •  静区尺寸:4米直径2米高度的圆柱体内(或者根据需要定制更大尺寸的静区)。
  
  •  屏蔽效能:满足标准EN50147-1或者更优。
  
  •  归一化场地衰减(NSA):在30MHz-1GHz内按CISPR16-1-4和ANSI C63.4标准满足±3.5dB,±3.0dB,±2.5dB等可供选择。
  
  •  场强均匀性(FU):按IEC61000-4-3的要求进行测,在0~6dB内。
  
  •  场地电压驻波比(sVSWR)在1GHz—18GHz范围内按CISPR16-1-4标准不大于6dB。
  
  •  背景噪声(Ambient Background Noise,称ABN):比CISPR32标准规定的限值低10dB。
  
  ·3米法半电波暗室·
  
  3m法半电波暗室是按照3m测试距离设计的半电波暗室,主要由3米法主暗室、操作控制室和功放室组成(可配置传导测试室),用于3m距离的辐射抗扰度测试和辐射发射的符合性测试。完整的暗室系统可以覆盖CISPR、EN、FCC、GB、GJB等多种标准,具备升级到全波暗室的能力。可广泛应用于IT产品,家用电器,医疗器械,汽车零部件,小型军工电子产品,工业电子用品,通信领域等电磁兼容测试。加配特殊接口后可以进行特殊产品的测试,如水表,燃气表,电能表等。典型屏蔽内尺寸:9m(长)×6m(宽)×6m(高)。
  
  主要性能
  
  •  辐射抗扰度测试:符合IEC/EN 61000-4-3等标准的要求。
  
  •  辐射发射测试:符合EN 50032、EN 50147-2、GJB 151A和GJB 152A等标准要求。
  
  •  静区尺寸:2米直径2米高度的圆柱体内。
  
  •  屏蔽效能:满足标准EN50147-1或者更优。
  
  •  归一化场地衰减(NSA):在30MHz-1GHz内按CISPR16-1-4和ANSI C63.4标准满足±3.5dB,±3.0dB,±2.5dB等可供选择。
  
  •  场强均匀性(FU):按IEC61000-4-3的要求进行测,在0~6dB内。
  
  •  场地电压驻波比(sVSWR)在1GHz—18GHz范围内按CISPR16-1-4标准不大于6dB。
  
  •  背景噪声(Ambient Background Noise,称ABN):比CISPR32标准规定的限值低10dB。

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